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MTI Instruments半自動(dòng)計(jì)量系統(tǒng)

發(fā)布時(shí)間：2021-07-01 17:08:13 瀏覽：1972

MTI Instruments半自動(dòng)計(jì)量系統(tǒng)是一種用于半導(dǎo)體和半絕緣質(zhì)料的臺(tái)式/臺(tái)式半主動(dòng)晶圓測量體系。基于 MTII 獨(dú)有的推挽電容技術(shù)，MTI Instruments半自動(dòng)計(jì)量系統(tǒng)供應(yīng)完備的晶圓外貌掃描，用于厚度、厚度變更、蜿蜒、翹曲、sori、地位和整體平坦度。用戶界說且合乎 ASTM/SEMI 的掃描模式用于生產(chǎn)完備的 3 維 (3D) 晶圓圖像。

MTI Instruments半自動(dòng)計(jì)量系統(tǒng)定制的數(shù)據(jù)匯報(bào)可用于稽查測量的每個(gè)晶片的表格數(shù)據(jù)，并疾速、放松地導(dǎo)出到您的電子表格法式。

晶圓規(guī)格直徑： 150 毫米、200 毫米、300 毫米；

質(zhì)料：全部半導(dǎo)體和半絕緣晶片，包含 Si、GaAs、Ge、SiC、InP；

外貌：切割、研磨、蝕刻、拋光、圖案化；

平頭/缺口：全部 SEMI 規(guī)范平頭或缺口；

電導(dǎo)率： P 或 N 型；

半自動(dòng)計(jì)量系統(tǒng).png

特性

怪異的 MTI 電容傳感器，具有雋拔的精確性和可重疊性；

完備的 1000 ?m 厚度測量局限，無需從新校準(zhǔn)；

測量厚度、TTV、蜿蜒度、翹曲度和地位以及整體平坦度的Windows ?用戶界面；

ASTM 規(guī)范測量；

SEMI S2-0200 健康和安全合規(guī)計(jì)劃；

SEMI S8-0999 合乎人體工程學(xué)的計(jì)劃；

測量全部質(zhì)料，包含 Si、GaAs、Ge、InP、SiC ***只有體電阻率小于 20K Ohm/cm；

深圳市3118云頂集團(tuán)創(chuàng)展科技有限公司，優(yōu)勢直接渠道提供MTI Instruments訂貨服務(wù)，歡迎咨詢。

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或聯(lián)系我們的銷售工程師：0755-83050846 QQ: 3312069749

	規(guī)格	范圍	準(zhǔn)確性
厚度	ASTM F533	+/- 500 微米	+/- 0.25 微米
電視	ASTM F657	+/- 500 微米	+/- 0.25 微米
弓	ASTM F534	+/- 250 微米	+/- 2.0 微米
經(jīng)	ASTM F1390	+/- 250 微米	+/- 2.0 微米
索里	ASTM F1451	+/- 250 微米	+/- 2.0 微米
平整度（現(xiàn)場）	ASTM F1530	8 毫米 *	+/- 0.15 微米
平整度（全球）	ASTM F1530	8 毫米 *	+/- 0.15 微米

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